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 V-400E 多用途超声波扫描显微镜 当前位置:首页>产品展示  
 


产品介绍:

名称:超声波扫描显微镜

型号:V-400E

产地:德国

应用:晶圆面处分层缺陷;锡球、晶圆、或填胶中的开裂;晶圆的倾斜;各种可能之孔洞(晶圆接合面、锡球、填胶等)

 

产品应用:

超声波扫描显微镜应用领域:

  • 半导体电子行业:半导体晶圆片、封装器件、大功率器件IGBT、红外器件、光电传感器件、SMT贴片器件、MEMS;
  • 材料行业:复合材料、镀膜、电镀、注塑、合金、超导材料、陶瓷、金属焊接、摩擦界面等;
  • 生物医学:活体细胞动态研究、骨骼、血管的研究等

超声波扫描显微镜在失效分析中的应用:

  • 晶圆面处分层缺陷
  • 锡球、晶圆、或填胶中的开裂
  • 晶圆的倾斜
  • 各种可能之孔洞(晶圆接合面、锡球、填胶等)

超声波显微镜的在失效分析中的优势:

  • 非破坏性、无损检测材料或IC芯片内部结构
  • 可分层扫描、多层扫描
  • 实施、直观的图像及分析
  • 缺陷的测量及缺陷面积和数量统计
  • 可显示材料内部的三维图像
  • 对人体是没有伤害的
  • 可检测各种缺陷(裂纹、分层、夹杂物、附着物、空洞、孔洞等)

 

主要参数:

  • -该型号超声波扫描显微镜系统是实验室、研发和工业生产线主流机型。
  • - 扫描速度最高可达:2000mm/s
  • - 与其它品牌机型相比扫描效率高30%
  • - 最大扫描范围:400mm×400mm
  • - 最小扫描范围:200μm×200μm
  • - 射频最大带宽:500MHz
  • - 新型FCT防误判专利探头

 

咨询或索取详细产品资料,请联系ANALYSIS(安赛斯)工作人员。

 

 
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