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	V-400E 多用途超声波扫描显微镜
	名称：超声波扫描显微镜型号：V-400E 产地：德国应用：晶圆面处分层缺陷；锡球、晶圆、或填胶中的开裂；晶圆的倾斜；各种可能之孔洞（晶圆接合面、锡球、填胶…等）

	V-700E 超声波扫描显微镜
	名称：超声波扫描显微镜型号：V-700E 产地：德国应用：晶圆面处分层缺陷；锡球、晶圆、或填胶中的开裂；晶圆的倾斜；各种可能之孔洞（晶圆接合面、锡球、填胶…等）

	V-1000E 超声波扫描显微镜
	名称：超声波扫描显微镜型号：V-1000E 产地：德国应用：晶圆面处分层缺陷；锡球、晶圆、或填胶中的开裂；晶圆的倾斜；各种可能之孔洞（晶圆接合面、锡球、填胶…等）

	V-duo 双探头超声波扫描显微镜系统
	名称：超声波扫描显微镜型号：V-duo 产地：德国应用：晶圆面处分层缺陷；锡球、晶圆、或填胶中的开裂；晶圆的倾斜；各种可能之孔洞（晶圆接合面、锡球、填胶…等）

	V-quattro四探头超声波扫描显微镜系统
	名称：超声波扫描显微镜型号：V-quattro 产地：德国应用：晶圆面处分层缺陷；锡球、晶圆、或填胶中的开裂；晶圆的倾斜；各种可能之孔洞（晶圆接合面、锡球、填胶…等）

	V-Octo 八探头大型超声波扫描显微镜系统
	名称：超声波扫描显微镜型号：V-octo 产地：德国应用：晶圆面处分层缺陷；锡球、晶圆、或填胶中的开裂；晶圆的倾斜；各种可能之孔洞（晶圆接合面、锡球、填胶…等）

	i-Ingot型全自动晶锭分析检测系统
	名称：超声波扫描显微镜型号：I-ingot 产地：德国应用：晶锭内部裂缝或杂质无损检测。

	I-Wafer型全自动晶圆超声波缺陷检测系统
	名称：超声波扫描显微镜型号：I-Wafer 产地：德国应用：晶圆内部裂缝或杂质无损检测。

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