产品介绍：

---

名称：超声波扫描显微镜

型号：I-Wafer

产地：德国

应用： 晶圆内部裂缝或杂质无损检测。

应用：

i-Wafer系列是一款高端仪器，操作人员可选择接收/拒绝标准，手动或自动检测晶圆。在KSI i-Wafer的探测下，晶圆中的孔隙、分层或者杂质都能被发现。尺寸在450mm的多种晶圆也能进行检测。

主要参数：

• 新型 i-Wafer晶圆缺陷检测系统的主要特点：
  - 扫描速度最高达2000mm/s
  - 新型换能器
  - 高质画面
  - 同时使用1只、2只、4只换能器提高效能
  - 能发现只有几微米的缺陷
  - 能检测200mm、300mm和450mm的晶圆
  - 频率范围从10MHz到550MHz
  - 最大放大倍数：625倍
  - 通过不同的扫描模式灵活应用
  - 使用Windows 7 GUI就可简单操作
  - KSI 可视软件
  - 根据用户需要加以应用
  - 高性价比

咨询或索取详细产品资料，请联系ANALYSIS（安赛斯）工作人员。